搜索条件

过滤: 出版者 Universidad Autónoma Metropolitana 删除限定条件 出版者: Universidad Autónoma Metropolitana 学科 Diagnostic imaging -- Equipment and supplies 删除限定条件 学科: Diagnostic imaging -- Equipment and supplies

搜索结果

  1. Caracterización de un equipo SPECT modelo Symbia marca Siemens con ¹⁷⁷Lu y ⁹⁹ᵐTc

    00000030q?file=thumbnail